本日、ネイチャー誌はインテルの研究論文「300 mm スピン量子ビット ウェハー上の単一電子の探査」を公開しました。この論文では、スピン量子ビットの最先端の均一性、忠実度、測定統計が実証されています。この業界をリードする研究により、シリコン ベースの量子プロセッサの大量生産と継続的なスケーリングへの道が開かれます。
